BHGE檢測科技X-Ray檢測

BHGE檢測科技X-Ray檢測在電子行業(yè)失效分析的研討會
三月的北京，春暖花開。迎著兩會藍，由BHGE檢測科技、北京朗時云帆科技有限公司、IPC聯合舉辦的“X-Ray檢測在電子行業(yè)失效分析的研討會”于2019年3月6日在GE北京技術園區(qū)成功召開。

會議由BHGE檢測科技X射線系統(tǒng)銷售經理張大磊主持。BHGE檢測科技X射線系統(tǒng)大中華區(qū)銷售總監(jiān)孔凡琴博士首先為大會致開幕詞，并分享了BHGE檢測科技“在中國為中國”的發(fā)展戰(zhàn)略，以及檢測科技在中國的相關業(yè)務和即將開業(yè)的的兩家全新的客戶應用中心。BHGE在中國的持續(xù)投資，將更好地為中國客戶提供更先進的產品和技術及更上等的服務和客戶體驗。

本次會議邀請了京津冀經濟圈六十余家單位參加，涵蓋大學、科研院所及電子制造企業(yè)。會議由BHGE檢測科技**應用專家李珉就X-Ray檢測在表面貼裝、IC封裝以及微納米工業(yè)CT在電子行業(yè)失效分析中的應用案例，與參會的專家、學者、從業(yè)人員進行分享、探討。同時，會議邀請了IPC主任講師史俊杰就電子行業(yè)特別是BGA相關工藝標準做了精彩的講解和分享。

本次研討會為京津冀電子行業(yè)相關單位提供了一次相互交流學習的機會，大家都認識到失效分析中X-Ray檢測的重要性。通過面對面的溝通探討，增進了彼此間的問題和解決方法的了解，為促進交流合作奠定了良好的基礎。